晶圆测试探针是什么

        晶圆测试探针是半导体测试探针的一种，是一种用于测试半导体晶圆的工具，它可以帮助检测晶圆的质量和性能。晶圆测试探针可以检测晶圆的尺寸、厚度、表面状态、电性能等，以确保晶圆的质量和性能。晶圆测试探针的使用可以大大提高半导体晶圆的质量，从而提高半导体产品的可靠性和可用性。

       晶圆测试探针一般由三部分组成：探针头、探针体和探针尾部。探针头用于连接晶圆表面上的电路，探针体用于将探针头固定在表面上，探针尾部用于连接测试仪器，以便测试电路。

随着半导体产业飞速发展，对于芯片测试工艺要求及精准度也随之增加，德普福提供SS,GSSG,GSGSG等配置。

可满足晶圆差分性能测试。

探针频率覆盖40GHz,50GHz,67GHz,100GHz

具有良好的针尖可见性划痕，用于晶圆级精度测量。