新版欢迎词

发布时间:2021-12-25 13:20:28

新版顶部右侧

发布时间:2021-12-25 13:28:05

昆山德普福电子科技有限公司

imgboxbg
资讯分类
>
>
>
晶圆测试探针是什么

晶圆测试探针是什么

  • 分类:行业动态
  • 作者:
  • 来源:
  • 发布时间:2023-02-23 11:43
  • 访问量:

【概要描述】

晶圆测试探针是什么

【概要描述】

  • 分类:行业动态
  • 作者:
  • 来源:
  • 发布时间:2023-02-23 11:43
  • 访问量:
详情

晶圆测试探针是什么

        晶圆测试探针是半导体测试探针的一种,是一种用于测试半导体晶圆的工具,它可以帮助检测晶圆的质量和性能。晶圆测试探针可以检测晶圆的尺寸、厚度、表面状态、电性能等,以确保晶圆的质量和性能。晶圆测试探针的使用可以大大提高半导体晶圆的质量,从而提高半导体产品的可靠性和可用性。

       晶圆测试探针一般由三部分组成:探针头、探针体和探针尾部。探针头用于连接晶圆表面上的电路,探针体用于将探针头固定在表面上,探针尾部用于连接测试仪器,以便测试电路。

随着半导体产业飞速发展,对于芯片测试工艺要求及精准度也随之增加,德普福提供SS,GSSG,GSGSG等配置。

可满足晶圆差分性能测试。

探针频率覆盖40GHz,50GHz,67GHz,100GHz

具有良好的针尖可见性划痕,用于晶圆级精度测量。

 

新版底部联系我们

发布时间:2021-12-25 14:07:54

昆山德普福电子科技有限公司

电话:13812951881(马向阳)

邮箱:david.ma@dloorplf.com

网址:http://www.dloorplf.com

地址:江苏省昆山市玉杨路1001号联东U谷3幢3楼

新版底部关于我们

发布时间:2021-12-25 14:16:08

新版底部产品中心

发布时间:2021-12-25 14:17:15

新版底部二维码

发布时间:2021-12-25 14:32:10

关注我们

 

德普福

新版地址版权

发布时间:2021-12-25 14:43:04

Copyright 昆山德普福电子科技有限公司 © All rights reserved    苏ICP备2021015184号-1 本站内容未经许可不得转载

新版技术支持

发布时间:2021-12-25 14:44:31