新版欢迎词

发布时间:2021-12-25 13:20:28

新版顶部右侧

发布时间:2021-12-25 13:28:05

昆山德普福电子科技有限公司

imgboxbg
资讯分类
>
>
>
晶圆测试探针为什么要校准?

晶圆测试探针为什么要校准?

  • 分类:行业动态
  • 作者:德普福
  • 来源:
  • 发布时间:2023-03-10 19:22
  • 访问量:

【概要描述】

晶圆测试探针为什么要校准?

【概要描述】

  • 分类:行业动态
  • 作者:德普福
  • 来源:
  • 发布时间:2023-03-10 19:22
  • 访问量:
详情

        晶圆测试探针是半导体测试探针的一种,是一种用于测试半导体晶圆的工具,它可以帮助检测晶圆的质量和性能。晶圆测试探针可以检测晶圆的尺寸、厚度、表面状态、电性能等,以确保晶圆的质量和性能。晶圆测试探针的使用可以大大提高半导体晶圆的质量,从而提高半导体产品的可靠性和可用性。

        在芯片设计和制造过程中,芯片未正式封装之前需要对单个晶圆进行测试。如图所示,在晶圆高频测试中,高频晶圆探针(wafer probe)是通过高频测试线连接至网络分析仪。网络分析在校准时,只能通过机械校准件或者电子校准件(Ecal)校准至高频测试线端口,并不能实现校准至探针针尖。

 

        因此高频测试时引入了探针的测量误差(如下图所示)。测量误差的引入,导致了测试所得到的数据并不能反映晶圆真实的高频特性。

新版底部联系我们

发布时间:2021-12-25 14:07:54

昆山德普福电子科技有限公司

电话:13812951881(马向阳)

邮箱:david.ma@dloorplf.com

网址:http://www.dloorplf.com

地址:江苏省昆山市玉杨路1001号联东U谷3幢3楼

新版底部关于我们

发布时间:2021-12-25 14:16:08

新版底部产品中心

发布时间:2021-12-25 14:17:15

新版底部二维码

发布时间:2021-12-25 14:32:10

关注我们

 

德普福

新版地址版权

发布时间:2021-12-25 14:43:04

Copyright 昆山德普福电子科技有限公司 © All rights reserved    苏ICP备2021015184号-1 本站内容未经许可不得转载

新版技术支持

发布时间:2021-12-25 14:44:31