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IC 测试 Socket定制化开发

测试插座

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IC 测试 Socket定制化开发

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产品描述

IC 测试 Socket定制化开发

应用于BGA、PGA、QFN、GCSP、CLCC、QFP、TSOP等多种封装形式IC产品。

适用于FT 、品质抽检、老化、烧录,失效分析等测试。

深度配合客户定制化开发整体Socket测试夹具;包括弹性压头,测试座,高频PCB等;

高频:同轴设计,满足45GHz测试需求

高密度:最小测试间距0.4mm pitch。

高性能:IL(dB) ≤0.17@45GHz;RL(dB) ≥15.9 @45GHz

操作方便,显著降低IC测试成本。

 

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